產品詳情
  • 產品名稱:低成本點位開關料位計/物位計

  • 產品型號:Super Swich AD8-6X8X
  • 產品廠商:AMETEK
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簡單介紹:
Super Swich AD8-6X8X低成本點位開關射頻導納料位計/射頻導納物位計AD8-6X8X-001能忽略探頭上的掛料,冇有粉塵或管道引起的錯誤報警Super
詳情介紹:

Super Swich  AD8-6X8X低成本點位開關射頻導納料位計/射頻導納物位計AD8-6X8X-001防爆射頻導納料位計/防爆射頻導納物位計能忽略探頭上的掛料,冇有粉塵或管道引起的錯誤報警射頻導納是一種從電容式發展起來的、防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的新型物位控製技術,是電容式物位技術的升級。所謂射頻導納,導納的含義為電學中阻抗的倒數,它由電阻性成分、電容性成分、感性成分綜合而成,而射頻即高頻無線電波譜,所以射頻導納可以理解為用高頻無線電波測量導納。儀表工作時,儀表的傳感器與罐壁及被測介質形成導納值,物位變化時,導納值相應變化,電路單元將測量導納值轉換成物位信號輸出,實現物位測量。

Super Swich  AD8-6X8X低成本點位開關射頻導納料位計/射頻導納物位計AD8-6X8X-001防爆射頻導納料位計/防爆射頻導納物位計所謂射頻導納,導納的含義為電學中阻抗的倒數,它由電阻性成分、電容性成分、感性成分綜合而成,而射頻即高頻無線電波譜,所以射頻導納可以理解為用高頻無線電波測量導納。儀表工作時,儀表的傳感器與罐壁及被測介質形成導納值,物位變化時,導納值相應變化,電路單元將測量導納值轉換成物位信號輸出,實現物位測量。射頻導納物位開關與電容式技術*重要的區彆在於測量量的多樣化和防掛料技術。

Super Swich  AD8-6X8X低成本點位開關射頻導納料位計/射頻導納物位計AD8-6X8X-001防爆射頻導納料位計/防爆射頻導納物位計射頻導納物位開關與電容式技術*重要的區彆在於測量量的多樣化和防掛料技術。
射頻導納物位開關測量量多樣化在於不止是測量電容,而是測量電容、電阻和電感的綜合量,使測量更**、更準確。
防掛料技術是在測量電極和地極之間加入屏蔽電極,將測量電極保護起來,不受掛料影響。在電路單元測量信號上引出一根線,經同相放大器放大,其輸出與同軸電纜屏蔽層相連,然後又連到探頭的屏蔽層上。該放大器是一個同相放大器,其增益為“1”,輸出信號與輸入信號等電位、同相位、同頻率但互相隔離。地線是電纜中另一條獨立的導線。由乾同軸電纜的中心線與外層屏蔽存在上述關係,所以二者之間冇有電位差,也就冇有電流流過,即冇有電流從中心線漏出來,相當於二者之間冇有電容或電容等於零。因此電纜的溫度效應,安裝電容等也就不會產生影響。

Super Swich  AD8-6X8X低成本點位開關射頻導納料位計/射頻導納物位計AD8-6X8X-001防爆射頻導納料位計/防爆射頻導納物位計對於探頭上的掛料問題,采用一種新的探頭結構,五層同心結構:*裡層是中心測杆,中間是屏蔽層,*外麵是接地的安裝螺紋,用絕緣層將其分彆隔離起來。如圖給出了探頭上掛料的等效電路。與同軸電纜的情況是一樣的,中心測杆與屏蔽層之間冇有電勢差,即使傳感元件上掛料阻抗很小,也不會有電流流過,電子儀器測量的僅僅是從探頭中心到對麵罐壁()的電流,因為Cote—shield元件能阻礙電流沿探頭向上流向容器壁,因而對地電流隻有經探頭末端通過被測介質到對麵容器壁。
UA=UBlAB=(UA-UB)÷R=O。由乾屏蔽層與容器壁之間存在電勢差,兩者之間雖有電流流過,但該電流不被測量,不影響測量結果。這樣就將測量端保護起來,不受掛料的影響。
隻有容器中的物料確實上升接觸到中心測杆時,通過被測物料,中心測杆與地之間形成被測電流,儀器檢測到該電流,產生有效輸出信號。Super Swich  AD8-6X8X低成本點位開關射頻導納料位計/射頻導納物位計AD8-6X8X-001防爆射頻導納料位計/防爆射頻導納物位計射頻導納式物位控製器是利用高頻技術,由電子線路產生一個小功率射頻信號於探頭上,探頭作為敏感元件,將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路於這些變化包括電容量和電導量的變化,因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號,采用相位檢測技術將這種變化檢測出來,進行處理後改變繼電器的輸出狀態。它是在原電容測量的基礎上改進為射頻導納測量技術,代表了當今物位測量的新水平。可用於測量導電及不導電物體。常用有標準型、重型探頭型、耐高溫用陶瓷探頭型、堵料開關、堵煤開關等等。    射頻導納物位儀表是一種從電容式物位測量技術發展起來的,防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的物位控製技術,射頻導納中的導納的含義為電學中阻抗的倒數,它由電阻性成分、電容性成分、電感性成分綜合而成。而射頻即發射高頻無線電波,所以射頻導納物位控製技術是通過用高頻無線電波測量被測介質導納來實現物位測量。

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